LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱的箱體結(jié)構(gòu)

LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱用途  
    LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱主要適用于零部件、電子五金元件、金屬材料的防護(hù)層以及工業(yè)產(chǎn)品的鹽霧腐蝕試驗(yàn)。 
LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu) 
    LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱整體模壓經(jīng)高溫焊接而成、耐腐蝕、易清潔、無(wú)泄露現(xiàn)象。 
    塔式噴霧系統(tǒng)，并裝有鹽液過(guò)濾系統(tǒng)，無(wú)結(jié)晶噴嘴，鹽霧分布均勻，沉降量自由調(diào)整。 
    箱蓋采用透明材料可清楚看到箱內(nèi)測(cè)試物品和噴霧狀況。  
    LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱箱蓋和箱體之間采用水密封結(jié)構(gòu)，無(wú)鹽霧溢出。 
    線路控制板及其它元?dú)饧潭ㄔ诒阌跈z查和維護(hù)的位置，采用門(mén)鎖開(kāi)啟式邊蓋門(mén)，不僅美觀，而且方便維護(hù) 
LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱控制系統(tǒng) 
    高精度P.I.D.控溫儀表，誤差為±0.1℃，RKC、OMRON、TEMI880儀表（選配）。 
    連續(xù)或周期噴霧任選；多重系統(tǒng)保護(hù)，使用安全可靠。 
    LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱所有電路均裝有斷路器，所有加熱器均帶有電子和機(jī)械過(guò)熱保護(hù)裝置。 
LYW鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn) 
    GB/T2423.17-2008、GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》，鹽霧試驗(yàn)方法及GB/T10125-1997、GB/T10587-2006、GB10593.2-1990、GB/T1765-1979、GB/T1771-2007、GB/T12967.3-2008、GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、MIL、DIN、ASTM等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)